2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、隨著信息技術的迅猛發展,半導體集成電路成為戰略武器系統、航空航天電子設備、工業控制等科技領域的核心部件,因此其可靠性就成為衡量集成電路的關鍵指標,其重要性甚至不亞于集成電路的電氣性能指標。
   Burn-in檢測是目前電子類產品檢測中最為重要的一項程序,它的主要作用就是篩選出具有缺陷和潛在缺陷的產品,防止產品出現早期失效,提高產品的可靠性。本論文主要以汽車電子為例,對該類芯片的可靠性問題做了深入研究。針對Burn-in技術的不

2、足之處做了分析和改進,并設計兩種檢測效率更高,檢測成本更低的測試方法,然后通過大量的實驗數據驗證了這兩種方法的可行性和實用性。
   一.為解決Burn-in設備昂貴,測試時間長,測試成本高等問題,設計了利用IDDQ電流測試原理進行片內測試的方法,經過實驗驗證了IDDQ片內測試可以比片外測試具有更好的測試覆蓋率,更快的測試速度以及更精確的測試結果。
   二.針對集成電路集成密度更高,功能越多的趨勢,設計了一種新的測試方

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